Lens atomic force microscope (LensAFM)

Lens atomic force microscope (LensAFM)
国别厂家:瑞士NanoSurf/苏州海斯兹
型号:LENS-AFM

技术指标:
(1)扫描范围不小于70μm
(2)扫描精度<0.4 nm
(3)XY 方向精度:<0.6%
(4)Z项扫描范围不小于14 µm
(5)Z方向噪音(空气中接触模式)<0.4 nm(max 0.55 nm)
(6)Z方向噪音(空气中动态力模式)<0.3 nm(max 0.55 nm)
(7)AFM测量重定位精度:±10 µm(包括探针更换,扫描头的重置和趋近)
(8)功率稳定性 :<0.1%

功能/应用范围:
纳米精度微纳结构、表面形貌观察。

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